1.1技術規格表：
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TYPE |
EL-1.4MD-AS-BL |
|
拍攝模式 |
下打光頂升直射式（組件正面朝下） |
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應用類型 |
敷設后層壓前 |
|
組件傳輸方式 |
組件長邊朝前（橫向傳輸） |
|
樣品放置方式 |
平放式 |
|
檢測類型 |
單晶/多晶硅太陽能組件 |
|
樣品尺寸 |
125mm/12*6pcs, 156mm/10*6pcs, 156mm/12*6pcs, 長度為1500～2000mm 寬度為700～1300mm的非標規組件 |
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測試時間 |
<40s/pcs(敷設后層壓前) |
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相機Sensor生產商 |
Sony |
|
相機類型 |
冷卻型CCD(可達低于室溫30℃) |
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分辨率 |
1360*1024*2 |
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影像采集時間 |
1～60s可調 |
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最大電流/電壓驅動 |
10A/60V |
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管理軟件 |
1、 EL圖像自動拍攝功能 2、 條形碼掃描輸入，以條形碼自動命名保存，并生成至圖像中 3、 判斷結果手動輸入，可配合上傳至服務器 4、 人工缺陷分類、自動生成日期文件夾、保存功能 |
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PLC控制模組 |
1． 操作模式多元化： 1.1 By-pass模式 1.2 自動檢測模式 1.3 再次拍照（Recapture）模式 1.4 校準模式，應用于切換組件規格 2． 采用觸摸屏控制： 2.1 實時顯示設備運行狀態 2.2 報警狀態下，顯示問題元器件位置，以快速排除故障 |
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機構特性 |
1、 采用頂升直射方式（專利號：2009200286496），組件尺寸切換簡易方便，無需調整軌道。 2、 雙氣缸獨立控制變軌，以擴充可測組件尺寸范圍 3、 雙電機、雙感應器 獨立控制雙軌傳輸，非接觸定位，修正組件傳輸偏移，避免硬接觸定位損壞組件。 4、 電極模組采用二維滑軌式調整機構。 |
2.可判斷缺陷類別：
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類別 |
焊接黑斑 |
顯裂/隱裂 黑斑 |
電流等級混 |
電池工藝缺陷（斷柵、燒結網紋、污染） |
電池原材料污染 |
虛焊典型性 |
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EL-1.4MD-AS-BL |
V |
V |
V |
V |
V |
V |
3.單套EL-1.4MD-AS-BL主要零部件清單
3.1 EL光學系統部分：
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Ref |
Ltem |
Qty |
Unit |
Remark |
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1 |
相機（含電子制冷系統） |
2 |
套 |
|
|
2 |
工業級近紅外光學模組 |
2 |
個 |
|
|
3 |
穩壓穩流電源（10A/60V） |
1 |
臺 |
|
|
4 |
暗箱系統（含自動氣缸開關門、自動電極接觸、獨立暗箱系統） |
1 |
套 |
|
|
5 |
聯想電腦主機 |
1 |
套 |
|
|
6 |
19寸液晶顯示器 |
1 |
臺 |
|
|
7 |
PLC監控觸摸屏 |
1 |
套 |
|
|
8 |
條形碼掃描槍 |
1 |
臺 |
|
|
9 |
軟件安裝光碟 |
1 |
張 |
|
|
10 |
操作手冊 |
1 |
套 |
|
3.2傳輸線部分：
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Ref |
Ltem |
Qty |
Unit |
Remark |
|
1 |
B級測試傳輸臺（XY軸規正，雙軌傳輸，雙電機雙感應器獨立控制） |
1 |
套 |
|
|
2 |
頂升機構 |
1 |
套 |
|
|
3 |
電氣控制系統 |
1 |
套 |
|
1.在線式組件EL測試儀（EL-1.4MD-AS-AL）
1.1技術規格表：
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TYPE |
EL-1.4MD-AS-AL |
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拍攝模式 |
下打光頂升直射式（組件正面朝下） |
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應用類型 |
層壓后 |
|
組件傳輸方式 |
組件長邊朝前（橫向傳輸） |
|
樣品放置方式 |
平放式 |
|
檢測類型 |
單晶/多晶硅太陽能組件 |
|
樣品尺寸 |
125mm/12*6pcs, 156mm/10*6pcs, 156mm/12*6pcs, 長度為1500～2000mm, 寬度為700～1300mm的非標規組件 |
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測試時間 |
<40s/pcs(敷設后層壓前) |
|
相機Sensor生產商 |
Sony |
|
相機類型 |
冷卻型CCD(可達低于室溫30℃) |
|
分辨率 |
1360*1024*2 |
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影像采集時間 |
1～60s可調 |
|
最大電流/電壓驅動 |
10A/60V |
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管理軟件 |
1、 EL圖像自動拍攝功能 2、 條形碼掃描輸入，以條形碼自動命名保存，并生成至圖像中 3、 判斷結果手動輸入，可配合上傳至服務器 4、 人工缺陷分類、自動生成日期文件夾、保存功能 |
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PLC控制模組 |
1． 操作模式多元化： 1.1 By-pass模式 1.2 自動檢測模式 1.3 再次拍照（Recapture）模式 1.4 校準模式，應用于切換組件規格 2． 采用觸摸屏控制： 2.1 實時顯示設備運行狀態 2.2 報警狀態下，顯示問題元器件位置，以快速排除故障 |
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機構特性 |
1、 采用頂升直射方式（專利號：2009200286496），組件尺寸切換簡易方便，無需調整軌道。 2、 雙氣缸獨立控制變軌，以擴充可測組件尺寸范圍 3、 雙電機、雙感應器 獨立控制雙軌傳輸，非接觸定位，修正組件傳輸偏移，避免硬接觸定位損壞組件。 4、 電極模組采用二維滑軌式調整機構。 |
2.可判斷缺陷類別：
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類別 |
焊接黑斑 |
顯裂/隱裂 黑斑 |
電流等級混 |
電池工藝缺陷（斷柵、燒結網紋、污染） |
電池原材料污染 |
虛焊典型性 |
|
EL-1.4MD-AS-BL |
V |
V |
V |
V |
V |
V |
3.單套EL-1.4MD-AS-BL主要零部件清單
3.1 EL光學系統部分：
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Ref |
Ltem |
Qty |
Unit |
Remark |
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1 |
相機（含電子制冷系統） |
2 |
套 |
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|
2 |
工業級近紅外光學模組 |
2 |
個 |
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3 |
穩壓穩流電源（10A/60V） |
1 |
臺 |
|
|
4 |
暗箱系統（含自動氣缸開關門、自動電極接觸、獨立暗箱系統） |
1 |
套 |
|
|
5 |
聯想電腦主機 |
1 |
套 |
|
|
6 |
19寸液晶顯示器 |
1 |
臺 |
|
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7 |
PLC監控觸摸屏 |
1 |
套 |
|
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8 |
條形碼掃描槍 |
1 |
臺 |
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9 |
軟件安裝光碟 |
1 |
張 |
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10 |
操作手冊 |
1 |
套 |
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3.2傳輸線部分：
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Ref |
Ltem |
Qty |
Unit |
Remark |
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1 |
B級測試傳輸臺（XY軸規正，雙軌傳輸，雙電機雙感應器獨立控制） |
1 |
套 |
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2 |
頂升機構 |
1 |
套 |
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|
3 |
電氣控制系統 |
1 |
套 |
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